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星閃相位（wèi）成（chéng）像係統 2.5D光源產（chǎn）品介（jiè）紹： 一次掃（sǎo）描即可獲取六張預處理效果圖 線掃2.5D相位偏折成像係統采用先進的相位偏折（shé）技術，通過線陣工業相機掃描與相位偏折（shé）算法實現高精度三維形貌檢測。 係統突破（pò）傳統成像局限，具備非接觸式測量、微米級分辨率與快速成像能力，可精準捕捉物體表麵微觀形（xíng）變及複雜輪廓。 廣（guǎng）泛應用: 工（gōng）業檢測中藍（lán）膜電池、印刷卡片、薄膜、玻璃蓋板、反光金屬鋁件、半導體晶元、汽車車漆等領域（yù），為質量控製與形態提供可靠解決方（fāng）案。 
商品說明
產品參（cān）數列表
一：成像原（yuán）理 2.5D條紋光源利用相位（wèi）成像光源（yuán）產生正（zhèng）弦條紋，將圖案投影至待測物上（shàng），用相機采集待測物表麵圖像到相機內參後，將得到的調製條紋圖進行與係統的幾何結構參數進行運算（suàn）得到相位信息，將相位信息轉換為高度（dù）信息，還原產品的形貌。 機器視覺線掃檢測項⽬中，通過相位成像光源輸出⾼頻信號給線陣相機，相機（jī）采（cǎi）集圖像後，圖像數據 直接傳⾄圖像預處（chù）理器，並處理獲得對應的8張預（yù）處理效果圖。 二：工（gōng）作原理
檢測原理 采取相位偏折技術（又稱“條紋反射法“）對於（yú）獲（huò）取的圖像進行計算和特征（zhēng）放大 可以變換成（chéng）X和Y方向4張不同相位（wèi）的正弦光斑 利用相機采集被測物（wù）表麵經過調製的彎曲條紋，進行相（xiàng）機標定 再將得到的調製（zhì）條紋圖進行數學計算，轉換為高度關（guān）係
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